Nueva plataforma de publicación de la clasificación Internacional de Patentes
Enviado por Editorial el Mar, 13/03/2012 - 08:50
A partir del día 12 de marzo, la Clasificación Internacional de Patentes (CIP) en español se va a publicar en la actual plataforma de publicación utilizada por la Organización Mundial de la Propiedad Intelectual (OMPI).
Esta plataforma de publicación incluye nuevas funcionalidades respecto a la anterior, siendo las más relevantes:
- Búsqueda por términos.
- Búsqueda de referencias cruzadas.
- Acceso directo a los PDFs de la clasificación a nivel subclase a través del esquema.
- Acceso a IPCCAT y TACSY.
Más información: http://cip.oepm.es/
Fuente: Oficina Española de Patentes y Marcas.